Bilbao acoge la 7ª edición de Metromeet

Bilbao acogerá la 7ª edición de Metromeet, la única Conferencia Internacional acerca de Metrología Industrial  Dimensional que se celebra en Europa, los días 31 de marzo y 1 de abril de 2011. A lo largo de 2 tutoriales, 3 keynotes y 18 presentaciones divididas en seis tracks temáticos, los asistentes a Metromeet conocerán los últimos avances en Metrología Industrial Dimensional, lo que les dará las claves para reducir los costes de sus empresas y mejorar la eficacia de la producción.

Metromeet abrirá su 7ª edición con un tutorial de dos horas de duración de la mano de Toni Ventura-Traveset, de Datapixel,  titulado Integrando la Metrología en la Empresa Digital: cómo mejorar el intercambio de información. El segundo tutorial de Metromeet correrá a cargo del Profesor Wolfgang Osten, de la Universidad de Stuttgart, que hará un resumen de los diferentes desafíos a los que se enfrenta el sector metrológico en el ámbito de la micro y nanometrología óptica y ofrecerá diferentes enfoques para superar los límites.

La metrología óptica cobrará especial relevancia en el keynote de Richard Leach, Director Científico de Investigación en la División de Ingeniería de Medición en el Laboratorio Nacional de Física (NPL) en Reino Unido, que reabrirá el debate de la metrología tradicional frente a la medición óptica en su keynote Contacto o sin contacto, esa es la cuestión. Se centrará en los problemas relacionados con ambos métodos, y formulará un marco el que quizás se puedan corregir algunos de los errores sistemáticos que son comunes a los instrumentos de medición de superficies.

El keynote inaugural de Metromeet correrá a cargo de John Lawall, del NIST, que planteará la posibilidad del uso del interferómetro Fabry-Perot para realizar mediciones. Esta técnica permite la absoluta medición de la longitud, además de un alto desplazamiento, comprobaciones de la propia consistencia y otras muchas ventajas.

Más información acerca de la Conferencia y el Programa, en www.metromeet.org