Consolidado ya como referente internacional en el ámbito de la Metrología Industrial Dimensional, Metromeet 2016 convoca a los más expertos líderes del sector para exponer y compartir los últimos avances en la materia los próximos 22, 23 y 24 de Marzo en Bilbao.
Además de tratarse de un evento único, la presentación de una ponencia se convierte en una oportunidad privilegiada que permite ser reconocido como un experto en el sector; contacto directo con directores y ejecutivos de empresas referentes en el sector metrológico además de contar con la oportunidad de establecer relaciones con nuevos clientes.
Tipos de ponencia y temáticas fundamentales
Metromeet ofrece tres posibles formatos de ponencias: Tutoriales de dos horas en las que el speaker podrá ofrecer su punto de vista y referencia persona sobre tecnologías y herramientas, keynotes o charlas magistrales de 50 minutos y finalmente sesiones de 25 minutos centradas en un tema concreto sobre Metrología Industrial Dimensional, acorde a las temáticas explicadas a continuación.
Control de calidad, soluciones metrológicas para la industria, calibración y verificación, fabricación aditiva, avances en micro- y nanometrología, futuras tendencias en I+D metrológico, últimos desarrollos y soluciones en el área de la medición óptica sin contacto y los sistemas de digitalización 3D, son algunas de las temáticas a tratar en Metromeet. “Tal y como se vio durante los tres días de congreso, la participación de profesionales de todas las ramas de la industria ha contribuido a seguir haciendo del mismo un punto de encuentro entre ponentes, los sponsors y asistentes”, apunta de la Maza.
Toda la información acerca de la convocatoria está disponible en en nuestra web así como las condiciones para los ponentes y las temáticas de este año.