El pasado viernes 24 de marzo, Metromeet llegaba a su fin después de 3 días de ponencias y constituyendo un foro de debate que permitirá a importantes representantes de la Industria, poner en común desarrollos e ideas sobre QiF.
Innovalia, gracias a esta 13ª edición de la Conferencia Internacional en Metrología industrial, conseguía concentrar a los principales ejecutivos de empresas con mayor proyección internacional como Metrosage, Capvidia, PwC, Innovalia Metrology, Novo Nordisk A/S, Renishaw y Autodesk entre muchas otras. Metromeet se ha convertido una vez más en la conferencia de carácter industrial más aplaudida del año, reuniendo también a representantes de diferentes universidades internacionales y otros centros tecnológicos como el IAC, Fraunhofer IPT, IK4- Tekniker y el PTB Alemán. Patrocinada por Innovalia Metrology, Renishaw, Faro y Zeiss, esta 13ª edición de Metromeet contaba con contenido innovador de gran interés y ha permitido descubrir y debatir sobre la importancia de la metrología en el camino hacia la Industria 4.0
La inauguración de la Conferencia ha tenido lugar en una de las principales salas del Palacio Euskalduna, donde Maurizio Ercole y Toni Ventura han compartían las directrices de Metromeet y los objetivos del encuentro.
Durante su intervención, Toni Ventura compartió con los asistentes su percepción y el potencial de esta jornada. “Durante mi carrera profesional, he tenido la suerte de asistir a numerosas Conferencias, pero Metromeet nos ofrece la perspectiva de fabricantes, usuarios e investigadores en un mismo entorno” comentaba el carismático Ventura. La inauguración de la Conferencia contó además con la intervención de Maurizio Ercole, Chairman oficial de Metromeet y padre de las MMC, que compartió con los asistentes su visión sobre la importancia de la metrología en el panorama actual.
La organización de Metromeet ofreció además durante este primer día de Conferencia, un espacio de ocio en el que sponsors, ponentes, expositores y asistentes compartieron desarrollos y trayectorias. Patrocinado por Watify, iniciativa de la Comisión Europea para la promoción de tecnología, este espacio contó además con una breve exposición por parte del CDTI (Centro para el Desarrollo Tecnológico Industrial) en el que se expusieron detalles sobre oportunidades internacionales para la realización de proyectos de fabricación avanzada.
Uno de los ponentes más esperados, Daniel Campbell (Texas, EEUU), brindó a la audiencia la oportunidad de descubrir los retos, aplicaciones e influencia del estándar QiF (Quality Information Framework) en el futuro de Industria 4.0. La exposición de Daniel marcó un punto de referencia en Metromeet 2017, estableciendo pautas de diálogo constante con los asistentes. Los asistentes y ponentes marcaron la temática de Campbell como objeto de interés y asientan bases para continuar el debate y el desarrollo, no sólo en el próximo Metromeet, si no en mesas redondas que la organización preparará a lo largo del año.
Después de poner sobre la mesa temas tan atractivos como la medición híbrida, QIF la inspección para fabricación aditiva, soluciones de software para impresiones 3D y el futuro del Big Data en la Industria 4.0, Metromeet daba por finalizada la primera jornada de la Conferencia dando paso al segundo día de Metromeet, donde una vez más se disfrutó de ponencias de contenido tecnológico avanzado como “Requerimientos metrológicos del Instituto de Astrofísica de Canarias” de llamadas al debate como “Metrología 4.0 para Industria 4.0” y de una demostración en tiempo real de M3 Software, el Software Metrológico Multisensor de Innovalia Metrology.
Metromeet conseguía con estos dos días de Conferencia, sacar conclusiones sobre las principales necesidades del sector y debatir acerca del futuro de la metrología con profesionales con distintas percepciones y distintas experiencias. El carácter internacional de Metromeet ha ofrecido una vez más, la posibilidad de traspasar fronteras y establecer un lazo de unión y trabajo entre EEUU y los principales países de Europa que permitirá aumentar de una manera exponencial la innovación y el consenso en este campo.
La reciente incorporación de Innovalia Metrology al CFAA (Centro de Fabricación Avanzada en Aeronáutica) permitió que el tercer y último día de Metromeet, tuviera como objetivo no sólo exponer aplicaciones de metrología en Automoción como en la pasada edición de Metromeet, si no que en esta ocasión, se compartieron ponencias cómo “Tendencias Metrológicas en Aeronáutica”, “Gestión de calidad de piezas de fabricación aditiva destinadas a Aeronáutica” o “Sistemas de inspección Láser para Aeronáutica”.
Etiquetada como “Metromeet & Wine” esta última jornada de Metromeet tuvo lugar en una moderna bodega de Txakoli Bizkaína que ofreció a los asistentes un ambiente más distendido en el disfrutaron no sólo de 6 ponencias acerca de las más avanzadas aplicaciones de metrología.
Con más de 20 ponentes y su gran proyección internacional, Metromeet convirtió a Bilbao en la capital de la Industria 4.0, poniendo una vez más a disposición de los asistentes infinitas posibilidades comerciales y de networking, además de avanzadas soluciones tecnológicas que ayudarán a las empresas del País Vasco a alcanzar una fabricación de cero defectos.
A través de Metromeet, Innovalia continúa demostrando su apuesta por el desarrollo tecnológico y su claro posicionamiento como prescriptor de soluciones avanzadas en el campo del control de calidad y la mejora de procesos de fabricación.