Dr. Octavio Icasio
CENAM (Mexico)
Sensitivity analysis of structured light systems based on VDI/VDE 2634-2 and ISO 10360-13 Performance Evaluation Tests
El Dr. Icasio presenta las pruebas de rendimiento de los sistemas de luz estructurada (SLS), utilizados para mediciones dimensionales sin contacto. Estos sistemas proyectan patrones de luz estructurada sobre un objeto de interés para establecer la correspondencia entre el proyector y la cámara (o cámaras) y proporcionar a continuación la reconstrucción tridimensional del objeto. Los errores en la calibración de los parámetros del modelo de un SLS pueden provocar errores sistemáticos en las mediciones dimensionales. Exploraremos el tema de las pruebas de rendimiento de un SLS, concretamente, la sensibilidad de las pruebas de longitud descritas en la directriz VDI/VDE 2634-2 y la norma ISO 10360-13 a los parámetros del modelo (como los parámetros intrínsecos de la cámara y el proyector, y los parámetros de geometría de la cámara y el proyector) de un SLS.
El Dr. Octavio Icasio es ingeniero en sistemas computacionales con máster en ingeniería en la especialidad de procesamiento digital de señales y doctorado en tecnologías avanzadas con especialidad en análisis de imágenes. Forma parte del Sistema Nacional de Investigadores del CONAHCYT. Trabaja en el Centro Nacional de Metrología de México (CENAM) como parte del grupo de Medición por Coordenadas, proporcionando servicios de medición, cursos y consultoría para la industria, donde actualmente es responsable del laboratorio de rastreador láser y de una máquina de medición por coordenadas. Ha sido profesor en la Universidad Politécnica de Querétaro y en la Universidad TecMilenio. A lo largo de 2001 trabajó para la empresa Unimetrik, colaborando en proyectos de la Unión Europea. Ha sido ingeniero de aplicaciones en rastreadores láser para la empresa API en USA e investigador invitado en el NIST.
