Jesus Paredes
Fundación Tekniker (España)
Towards task-specific uncertainty assessment for Imaging confocal microscopes
La evaluación de la trazabilidad y la estimación de los errores de las mediciones de superficies sigue siendo una cuestión pendiente para los microscopios 3D y los perfilómetros que emplean diversas técnicas de medición óptica. Además, la evaluación de la incertidumbre específica de la tarea en relación con características geométricas concretas es un tema que no está cubierto, ya que la calibración de estos instrumentos de medición complejos todavía se está implantando industrialmente y faltan herramientas para este fin. Por ello, la fabricación y el control de calidad de tales geometrías no están controlados metrológicamente. La investigación pretende cubrir esta laguna propagando los resultados de calibración del microscopio de imagen confocal a la evaluación de la incertidumbre específica de la tarea. Esto se aborda mediante estrategias de simulación basadas en el enfoque Montecarlo, en el que se realizan de forma iterativa 10000 mediciones y su procesamiento, y mediante el instrumento óptico elegido, es decir, el microscopio SNEOX de Sensofar. Los resultados del estudio ayudarán a cuantificar, comprender y mejorar la calidad dimensional de las muestras fabricadas y los procesos correspondientes.
Jesús Paredes es candidato a Doctorado en Física por la Universidad del País Vasco, con 3 años de experiencia en TEKNIKER. Licenciado en Física y Máster en Nanodispositivos, Materiales Avanzados y Fotónica, actualmente cursa un doctorado en calibración y evaluación de incertidumbre de técnicas de perfilometría óptica 3D de precisión nanométrica para la caracterización metrológica de superficies micro y nanoestructuradas. Actualmente participa en el proyecto europeo EMPIR TracOptic, centrado en el desarrollo de normas y directrices de mejores prácticas para técnicas de perfilometría óptica 3D, con el objetivo de estandarizar los procedimientos de medición y definir los puntos fuertes y las limitaciones de cada técnica.
