La industria de la automoción, médica y de telecomunicaciones, entre otras, están aumentando su dependencia de micropiezas con geometrías completas, por lo que un importante avance en el ámbito de la metrología industrial dimensional será el desarrollo de la micrometrología multisensor. El objetivo es combinar la alta precisión y las capacidades 3D de la medición por palpado con la velocidad de la medición óptica, y la posibilidad de los rayos X de la tomografía computarizada para medir las características internas de las micropiezas.

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