Programa Metromeet

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10

Abril / Miercoles

11

Abril / Jueves

12

Abril / Viernes

08:30-09:00

REGISTRO & CAFÉ

09:00-11:30

TUTORIAL

Fabrica Inteligente para producción cero defectos

Toni Ventura | Datapixel

España

11:30-12:15

CAFÉ

12:15-12:30

INAUGURACIÓN de CONFERENCIA

12:30-13:30

KEYNOTE 

QIF – Persiguiendo la Fabricación Interoperable

Ray Admire | QIF Solutions / DMSC

Estados Unidos

13:30-15:00

COMIDA
 

15:00-15:30

TRACK 1: Aplicaciones de Metrología Industrial

Sistema de inspección multi-espectral automático para corrosión y recubrimientos

Bart Ribbens | University of Antwerp – Bélgica

15:30-16:00

 

Metrología en caliente y pruebas no destructivas para la fabricación aditiva

William Kerr | Advanced Forming Research Centre – Reino Unido

16:00-16:30

Máquina de medición de coordenadas micro (mCMM) con actuador de bobina de voz con retroalimentación de posición interferométrica

Gabor Molnar | PTB – Alemania

16:30-17:00

Hacia la Metrología superficial de superresolución

Samanta Piano | Nottingam University – Reino Unido

17:00-17:30

 
SPECIAL LECTURE

Fabricación bajo demanda

Philip Hewitt | Autodesk

Reino Unido

 

17:30-18:00

18:00-18:30

TRACK 2: Instrumentación y Calibración
Maneras prácticas para garantizar la validez de los resultados de las mediciones

Adriana Valcu | Regionale Directorate of Legal Metrology – Rumania

Evaluación y selección de métodos existentes para calibrar máquinas de medición de coordenadas

Yuliia Skovorodkina | National Scientific Center Institute of Metrology – Ucrania

BANQUETE de CONFERENCIA
 
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